메가터치 산업 포코핀 공정

반도체산업

메가터치 는 비메모리반도체 벨류체인 상 후공정 프로세스 중에서 주로 Wafer Test와 Final Test등 테스트 공정에 필요한 포고핀, 인터포저 등의 제품을 주력으로 생산하고 있으며, 특히 비메모리반도체 중에서 CPU/GPU 등 고난이도 제품의 테스트를 주 사업으로 하고 있습니다. 이에 당사는 각 제품군에 맞춘 장비 및 엔지니어를 확보하여 최고의 신뢰성 있는 경쟁 우위를 확보해 나가고 있습니다. 포고핀(Pogo Pin)은 반도체 테스트에 사용되는 핸들러에 사용되는 소모성 부품인 테스트 소켓에 조립되는 부품이며, 테스트 소켓은 반도체 제조 공정에서 제작된 패키지의 최종적인 불량유무를 검사하는 단계에서 사용되어지는 소모성 부품으로, Test Board와 Package 사이의 interface역할을 하는 목적으로 사용되는, 반도체공정에서 제품의 신뢰성 확보를 위한 필수적인 제품입니다. 소켓은 다수개의 포고핀(Pogo Pin)을 모아 모듈화 한 제품입니다.

포코핀

포고핀(Pogo Pin)은 소켓 외에도 웨이퍼 공정을 테스트하는 소모품인 프로브 카드에 사용되어지는 소모성 부품이기도 합니다. 이를 인터포저(Interposer) 라고 하며, 인터포저의 경우, 프로브 카드 제조사로 핀을 공급하게 되고, 해당 제품은 프로브 카드와 같이 조립되어 Wafer level test의 공정에서 사용하게 됩니다. 프로브카드 프로브 카드는 아주 가는 Needle(침)을 PCB 기판에 고정시켜 놓은 것으로, 반도체의 동작을 검사하기 위하여 반도체 칩과 테스트 장비를 연결하는 장치입니다. 프로브 카드에 장착되어 있는 프로브 바늘이 웨이퍼를 접촉하면서 전기를 보내고, 그때 돌아오는 신호에 따라 불량 반도체 칩을 선별합니다. 프로브 카드는 웨이퍼 상태의 반도체 칩을 검사하는데 쓰이는 제품으로 반도체 칩 전극을 전기적으로 연결하는 프로브 핀, 핀과 검사 장비를 연결하는 ST, ST를 PCB와 연결하는 인터포저 등으로 구성되어 있습니다. 한편, 최근 인터포저(Interposer)외에도 Wafer Level Test의 시장 요구가 늘어나면서 Needle 대신, Fin pitch 포고핀(Pogo pin)으로 대체하여 사용하고자 하는 고객의 Needs가 증가하고 있는 상황입니다.인터포저의 경우, 고객사별로 지정된 디자인이 있으며, 동일한 디자인의 제품을 다량 소품종으로 공급하게 됩니다. 반면, 포고핀의 경우 동일한 Package test하에서도 소켓 디자인에 따라 다른 제품이 공급될 수 있는 바 소켓 디자인 별로 Test condition을 최상으로 유지하기 위한 구조로 설계가 진행됩니다.

주요 공정

제품이 공급되는 주요 공정은 주로 웨이퍼테스트 및 패키지테스트이며, 특히 패키지테스트에 사용되는 소켓의 부품을 주요 사업으로 영위하고 있습니다. 최근 전공정에서의 선폭 미세화를 통한 집적도 향상과 후공정에서의 advanced 패키징 도입으로 반도체칩 성능이 높아지면서 입·출력단자인 솔더볼 수가 증가하고 있습니다. 현재 최종 패키징 된 솔더볼의 Pitch(볼과 볼 사이의 간격) 0.35~0.25mm까지 줄어들었고, 솔더볼은 일부 편차가 있으나 최대 20,000개까지 증가된 바 이는 핀의 수량 및 가격 상승으로 이어질 것으로 전망됩니다. 또한 최근 WLSCP등 Wafer Test단계에서도 포고핀(Pogo Pin)을 이용한 프로브 카드 적용이 많이 이루어지고 있으며 이러한 WLCSP 제품의 경우 솔더볼의 Pitch(볼과 볼 사이의 간격)가 0.2~0.1mm까지 미세화되고 있어 당사의 사업영역은 확장될 것으로 전망됩니다.